Modify MIPI TX & TPC event Timing for PVT Time mask test--MT6169
原资料介绍：
調整Timing 的時候，請調到剛好的位置不用留太多margin，太接近boundary 有些CMW500 TX throughput會fail，ex: PA on time =9us 時time mask會fail，PA on time=8us Pass，那就用8us.
TDD band 可以先試著把ASM往boundary調。(page.7)
PA on的Timing 應該要在TPC之前! (Page.6)
因CMW500解調能力較差，請務必試過CMW500 的TX throughput.
BPI 的Timing 請依照PT1 => PT2 => TPC (4us) 的時間順序。
资料包括以下内容：
http://bbs.16rd.com/thread-460163-1-1.html
Step 1: 确认PA on event 是否在最低档位
Step 2: 依照FDD/TDD band 调整event timing
Step 3: Check
Other questions
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1）目前Fail都是在Before off的地方，那么为什么将TX的时间设置为提前打开呢？
---在LTE spec中定义的time mask for PUSCH/PUCCH，ramping时间其实是压到TX data的前面20 us，如果我们完全依据spec设定，TX data就会在每次开window时遭到suffer，导致UL throughput变差(某些解调能力较差的仪器就是会
因为第一个TX symbol的data遭到suffer，就解不出来而导致test fail)，可以通过观察Tx 的第一个symbol EVM是否变差来排查 ，所以目前的做法都是在不被仪器检测出违反time mask的前提下，尽早将组件提早开启。
2）哪些参数都可以改善General on/off指标呢？
---PA ON、 TPC ON 及开关的打开时间对于time mask都会有影响，由于不同的PA、matching的不同及走线不同，时间上稍微有差异性，后期可能要依据不同的手机tuning组件的开启时间，目前关于MIPI PA时间及BPI的逻辑状态修改已经在Nvram中开放，后续会进一步开放BPI的时序参数。
